SJ 20954-2006 集成电路锁定试验

标准号：SJ 20954-2006
中文标准名称：集成电路锁定试验
英文标准名称：Integrated circuits latch-up test
标准类型：L55
发布日期：2006/8/7 12:00:00
实施日期：2006/12/30 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
引用标准：GB/T 17574
适用范围： 本标准规定了集成电路（IC）的电流锁定和过压锁定的试验方法。 本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法，用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、*小无故障率（NTF）和过电应力失效（EOS）非常重要。 本试验方法适用于NMOS、CMOS、双级以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法下出现锁定时，表明器件电性能失效，与器件特殊结构无关。