IEC 60748-11-1-1992 半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检

标准号：IEC 60748-11-1-1992
中文标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
英文标准名称：Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
标准类型：L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
适用范围：Purpose of the tests is to check the internal materials, construction and workmanship for compliance with the requirements of the applicable specification. The tests will normally be used prior to capping or encapsulation on a 100 % inspection basis to d