标准号：ASTM F391-1996
中文标准名称：通过测量稳态硅表面光致电压确定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法
英文标准名称：Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage
标准类型：H81
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：H81
国际标准分类号：29.045 (Semiconducting materials)
ASTM F391-1996 通过测量稳态硅表面光致电压确定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法
百检网 2021-08-03
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