GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

百检网 2021-08-03

标准号：GB/T 5594.3-1985
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for mean coefficient of linear expansion
标准类型：L32
发布日期：1985/11/27 12:00:00
实施日期：1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L32
国际标准分类号：31.030
适用范围：本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

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