BS PD IEC/TS 61967-3-2014 集成电路.电磁辐射的测量.放射形辐射测量.表面扫描法

百检网 2021-08-04

标准号：BS PD IEC/TS 61967-3-2014
中文标准名称：集成电路.电磁辐射的测量.放射形辐射测量.表面扫描法
英文标准名称：Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. Measurement of radiated emissions. Surface scan metho
标准类型：L56
发布日期：2014/9/30 12:00:00
实施日期：2014/9/30 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
引用标准：IEC 60050;IEC 61967-1;IEC 61967-6;IEC TR 61967-1-1

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《ASTM F1898-2008(2015) 婴幼儿用非机动轮式车辆头盔的标准规格》

下一篇《SAE J 2412-2004 利用可控辐射氙弧仪器加速曝光汽车内部饰件》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

相关问答

最新资讯