IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具

标准号：IEC 60444-8-2003
中文标准名称：石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
英文标准名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
标准类型：L21
发布日期：2003/10/1 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L21
国际标准分类号：31.140
适用范围：GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具， 测量方法采用IEC 60444-4：1988和IEC 60444-5：1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外， 本部分也适用于IEC 61240:1994中的无引线晶体元件外壳。测量了夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1:1986和IEC 60444-4:1988。 负载电容范围为10pF 或更高。 本部分还规定了测量系统和C片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C、动态电容C和动态电感L的测量夹具， 其频率范围为1MHz～150MHz， 采用基于IEC 60444-5:1995的自动网络分析仪。