标准号：SJ/T 11207-1999
中文标准名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
英文标准名称：Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films
标准类型：L19
发布日期：1999/8/26 12:00:00
实施日期：1999/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L19
国际标准分类号：29.100.10
适用范围：本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。
SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
百检网 2021-08-05
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