标准号：20020617-T-469
中文标准名称：表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
英文标准名称：Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
标准状态：已发布
标准类型：国标计划
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：N33
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：清华大学电子工程系
起草人：黄天斌
相近标准：GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法;20110886-T-469 表
标准制修订：制订
20020617-T-469 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 已发布
百检网 2021-08-06
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