GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法现行

百检网 2021-08-06

标准号：GB/T 15651.3-2003
中文标准名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
英文标准名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
标准状态：现行
标准类型：国家标准
发布日期：2003/11/24 12:00:00
实施日期：2004/8/1 12:00:00
中国标准分类号：L50
国际标准分类号：31.260
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂
相近标准：GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件;GB/T 15651.2-2003

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