20021939-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 已发布

百检网 2021-08-06
标准号:20021939-T-610
中文标准名称:非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文标准名称:Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:H17
国际标准分类号:77.040.01
归口单位:中国有色金属工业协会
主管部门:中国有色金属工业协会
起草单位:北京有色金属研究总院
起草人:王彤涵
相近标准:GB/T 4326-2006  非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法;GB/T 4326-1984  非本征半导体单晶霍
标准制修订:修订

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