上海镀层厚度检测丨电镀膜厚测试丨镀层分析行业** -专业快速 |
镀层厚度检测-联系电话：152 0173 3840李工
安普检测中心是专业第三方检测机构，出具权威检测报告（诚招同行代理；有意联系宋总15018089520）
安普检测的服务优势在于以更短的检测周期和更低的服务价格，为客户节约成本和周期，帮助客户快速获取准确有效数据，并为客户提供后期技术服务支持。安普检测作为平台化运营品牌，与国内外多家实验室建立了良好的合作关系，旨在为客户、行业提供更全面、更优
质的检测咨询服务
镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。
金相法：
采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。
库仑法：
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳*溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray 方法：
适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。
检测标准：1. GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section
3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential
Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)
4. GB/T4955-1997金属覆盖层 覆盖层厚度测量
5. GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measuremen
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金相法：
采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。
库仑法：
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳*溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray 方法：
适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。
检测标准：1. GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section
3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential
Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)
4. GB/T4955-1997金属覆盖层 覆盖层厚度测量
5. GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry