标准简介
本标准规定了半导体集成电路时基电路电参数测试方法的基本原理。英文名称：General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
页数：平装16开， 页数：13， 字数：22千字
前言
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