标准简介
本标准规定了游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验条件、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分度值/分辨力为0.01mm、0.02mm、0.05mm和0.10mm，测量范围为（0～70）mm至（0～4000）mm的游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺。英文名称：Vernier dial and digital display calipers
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 1214.1-1996;GB/T 1214.2-1996;GB/T 14899-1994;GB/T 6317-1993
中标分类：机械>>工艺装备>>J42量具与量仪
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-02-02
实施日期：2008-07-01
出版日期：2008-05-01
页数：18页
前言
本标准是对GB/T1214.1-1996《游标类卡尺 通用技术条件》、GB/T1214.2-1996《游标类卡尺 游标卡尺》、GB/T6317-1993《带表卡尺》、GB/T14899-1994《电子数显卡尺》和JB/T8370-1996《游标类卡尺 游标卡尺(测量范围为0mm~1500mm、0mm~2000mm)》5项标准进行整合修订的。本标准代替GB/T1214.1-1996《游标类卡尺 通用技术条件》、GB/T1214.2-1996《游标类卡尺 游标卡尺》、GB/T6317-1993《带表卡尺》、GB/T14899-1994《电子数显卡尺》。自本标准实施之日起,JB/T8370-1996《游标类卡尺 游标卡尺(测量范围为0mm~1500mm、0mm~2000mm)》作废。本标准与上述5项标准相比,主要变化如下:---扩展了卡尺1)的测量范围及形式,增加了卡尺结构基本参数的遵循原则,修改了卡尺结构基本参数的推荐值(GB/T1214.2-1996的第1章、第3章;GB/T6317-1993的第1章、第3章;GB/T14899-1994的第1章、第4章;JB/T8370-1996的第1章、第3章;本标准的第1章、第4章);---用分度值和分辨力术语代替读数值和分辨率术语(GB/T1214.1-1996的第1章;GB/T14899-1994的第1章;本标准的第1章、表4等);---删除了带表卡尺、测量范围、示值变动性、电子数显卡尺和分辨率的术语定义(GB/T6317-1993的第3章;GB/T14899-1994的第3章);---增加了带台阶测量面卡尺的形式示意图(本标准的图2、图5);---修改了卡尺测量爪伸出长度差的要求(放宽),并增加了其检验方法(GB/T1214.2-1996 的3.3;GB/T6317-1993的4.5;GB/T14899-1994的5.5;本标准的5.3和8.3);---修改并统一规定了卡尺测量面的表面粗糙度犚犪的*大值(GB/T 6317-1993 的5.6;GB/T14899-1994的5.4;本标准的5.5);---用标尺标记术语代替尺身刻线和游标刻线等术语,并引入零值误差术语(GB/T1214.1-1996的3.6、3.7;GB/T6317-1993的5.7、5.11;JB/T8370-1996的4.5;本标准的5.6和5.8);1) 本标准所称卡尺系指游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺三者的统称。---用微视差游标卡尺术语代替无视差游标卡尺和同一平面型游标卡尺(GB/T1214.1-1996 的3.6.3;本标准的5.7.1);---增加了对数显卡尺通讯接口的要求(本标准的5.10);---增加了对数显卡尺防护等级的要求(本标准的5.11);---增加了对数显卡尺抗静电能力和电磁干扰能力的要求(本标准的5.12);---修改了卡尺外测量面平面度的要求(GB/T1214.1-1996的4.3;GB/T6317-1993的5.12;GB/T14899-1994的5.6;JB/T8370-1996的4.3;本标准的5.13.1);---修改并统一规定了卡尺两外测量面合并间隙的要求及检验方法(GB/T6317-1993的5.13;GB/T14899-1994的5.7;本标准的5.13.1和8.10.1);---用*大允许误差术语代替示值误差术语对卡尺示值指标做出规定(GB/T1214.1-1996的3.9;GB/T1214.2-1996 的4.5、4.6;GB/T6317-1996 的5.15,GB/T14899-1994 的5.10;本标准的5.15);---修改并统一规定了卡尺外测量的*大允许误差要求,给出了*大允许误差的计算公式,以使标准的使用更方便、更具指导性,并按测量范围上限给出了部分计算值(GB/T1214.1-1996的3.9;GB/T6317-1993的5.15;GB/T14899-1994 的5.10;JB/T8370-1996 的4.7;本标准的5.15.1);---修改并统一规定了卡尺刀口内测量爪内测量的*大允许误差要求及其检验方法(GB/T1214.2-1996的4.5、5.5;GB/T6317-1993的5.15、A1.2;GB/T14899-1994 的5.9、A10;本标准的5.15.2和8.12.2);---修改了数显卡尺深度及台阶测量的*大允许误差要求(GB/T14899-1994的5.10;本标准的5.15.3);---增加了检验卡尺时平衡温度时间的检验条件(GB/T14899-1994的A1;本标准的第7章);---对卡尺外测量示值检定点,改为提出对示值检测点的数量及其分布规律性的要求,对示值检定点的推荐量块尺寸作为参考资料在资料性附录中给出(GB/T 1214.2-1996 的5.7;GB/T6317-1993的A1.1;GB/T14899-1994的A11.1;JB/T8370-1996 的5.4;本标准的8.12.1.3、附录C);---修改了卡尺的相互作用(即:移动力,移动力变化和晃动量)的要求及其定量检验方法,并作为参考资料在资料性附录中给出(GB/T1214.2-1996 的5.2.2;GB/T6317-1993 的A4;GB/T14899-1994的A3.1、A3.2;JB/T8370-1996的5.2;本标准的附录A);---增加了卡尺两外测量面平面度用刀口形直尺检查的评定细则,并作为参考资料在资料性附录中给出,删除了平晶检查法(GB/T 1214.2-1996 的5.3;GB/T 6317-1993 的A3;GB/T14899-1994的A7;JB/T8370-1996的5.3;本标准的附录B)。本标准的附录B为规范性附录;附录A、附录C 为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。本标准负责起草单位:成都工具研究所和桂林量具刃具厂。本标准参加起草单位:上海量具刃具厂、靖江量具有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、成都成量工具有限公司和桂林广陆数字测控股份有限公司。本标准主要起草人:陈学仁、赵伟荣、姜志刚、周国明、杨东顺、张伟、于晓霞、李隆勇、彭凤平。
