标准简介
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片，片状件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。英文名称：Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 14619-2013代替
中标分类：>>>>L32
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1993-09-03
实施日期：1993-01-02
作废日期：2014-04-15
出版日期：2004-08-22
页数：平装16开， 页数：9， 字数：12千字
前言
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