标准简介
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity
标准状态:现行
中标分类:>>>>L32
ICS分类:31.030
发布部门:信息产业部(电子)
发布日期:1985-01-01
实施日期:1986-01-02
页数:3页
前言
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