标准简介
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。本标准不适用于专用测长型扫描电镜。英文名称：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 27788-2011
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N32放大镜与显微镜
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-04-01
出版日期：2020-06-01
页数：24页
前言
放大镜与显微镜相关标准
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