标准简介
本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:———定量分析原理;———本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;———仪器的一般要求;———有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准状态：现行
中标分类：仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-07-31
实施日期：2013-02-01
出版日期：2013-02-01
页数：16页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则编写。本标准使用翻译法等同采用ISO22489:2006《微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析》(英文版)。本标准做了下列编辑性修改:用10-6替代ppm。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准主要起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。
