标准简介
本标准规定了在俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱均匀材料定量分析中相对灵敏度因子的实验测量和使用指南。英文名称：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
标准状态：现行
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2014-06-09
实施日期：2014-12-01
出版日期：2014-12-01
页数：28页
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准采用翻译法等同采用ISO18118:2004《表面化学分析 俄歇电子能谱和 X射线光电子能谱实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南》。与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT);———GB/T21006—2007 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标线性(ISO21270:2004,IDT)。本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。本标准主要起草人:吴正龙。
