标准简介
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。 本标准适用于电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）、快闪存储器（Flash）以及内嵌上述存储器的集成电路.英文名称：Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
页数：12页
前言
半导体集成电路相关标准
