标准简介
本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits
标准状态：现行
替代情况：SJ/T 10741-1996(原标准号GB 3834-1983)
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：信息产业部
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
作废日期：2011-08-15
出版日期：2001-02-01
页数：37页
前言
SJ/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路SJ/T 10734-1996 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
