标准简介
本部分规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片的检测要求、检测方法和检验规则，暂不涉及ROM。本部分适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性存储器芯片的鉴定验收和评价检测活动。英文名称：Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 4:Nonvolatile memory
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：中国电子学会
发布日期：2020-06-08
实施日期：2020-08-15
页数：32页
前言
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