GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法 现行

标准号：GB/T 20726-2015
中文标准名称：微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
标准状态：现行,发布于2015-10-09; 实施于2016-09-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2015-10-09
实施日期：2016-09-01
中国标准分类号：71.040.99
国际标准分类号：71.040.99
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：中国科学院地质与地球物理研究所
全部替代标准：GB/T 20726-2006
相近标准：20131704-T-469 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法; GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法; 20075691-T-469 X射线光电子能谱仪检定方法; 20204064-T-469 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语; 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语; 20000309-T-469 微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语; GB/T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语; GB/T 30705-2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则; 20121406-T-469 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则; GB/T 28892-2012 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述