GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱 现行

标准号：GB/T 30453-2013
中文标准名称：硅材料原生缺陷图谱
英文标准名称：Metallographs collection for original defects of crystalline silicon
标准状态：现行,发布于2013-12-31; 实施于2014-10-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2013-12-31
实施日期：2014-10-01
中国标准分类号：29.045
国际标准分类号：29.045
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：有研半导体材料股份有限公司;南京国盛电子有限公司;万向硅峰电子股份有限公司;陕西天宏硅材料有限责任公司;东方电气集团峨眉半导体材料有限公司;杭州海纳半导体有公司;四川新光硅业科技有限责任公司;中国有色金属工业标准化计量质量研究所
相近标准：20080032-T-469 硅材料原生缺陷图谱; 碳化硅晶体材料缺陷图谱; GB/T 18000-1999 木材缺陷图谱; GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱; 20150504-T-610 锗晶体缺陷图谱; 锗晶体缺陷图谱; GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱; GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱; 20132164-T-469 蓝宝石晶体缺陷图谱; CB/T 3409-1991 舰船材料金相图谱