标准号:GB/T 30118-2013
中文标准名称:声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法
英文标准名称:Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
标准状态:现行,发布于2013-12-17; 实施于2014-05-15; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2013-12-17
实施日期:2014-05-15
中国标准分类号:31.140
国际标准分类号:31.140
归口单位:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
执行单位:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所;北京石晶光电科技有限公司;中国电子科技集团德清华莹电子有限公司
采标情况:本标准修改采用IEC国际标准:IEC 62276:2005。
采标中文名称:声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法。
相近标准:20070297-T-339 声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法; 20194111-T-339 声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法; 声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法; 20181788-T-339 射频声表面波(SAW)器件和声体波(BAW)器件的非线性测量指南; 射频声表面波(SAW)器件和声体波(BAW)器件的非线性测量指南; GB/T 31092-2014 蓝宝石单晶晶锭; 20204894-T-469 蓝宝石单晶晶棒; 蓝宝石单晶晶棒; 20110056-T-469 蓝宝石单晶晶锭; GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法