GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 现行

标准号：GB/T 29556-2013
中文标准名称：表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
英文标准名称：Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
标准状态：现行,发布于2013-07-19; 实施于2014-03-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2013-07-19
实施日期：2014-03-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：厦门爱劳德光电有限公司;中国科学院化学所;清华大学化学系
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO/TR 19319:2003。
采标中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定。
相近标准：20110884-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定; GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定; 20078461-T-491 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定; GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; 20121403-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南; GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告; GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序; 20110878-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序