GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 现行

标准号：GB/T 26074-2010
中文标准名称：锗单晶电阻率直流四探针测量方法
英文标准名称：Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe
标准状态：现行,发布于2011-01-10; 实施于2011-10-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
中国标准分类号：77.040.99
国际标准分类号：77.040.99
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：南京中锗科技股份有限公司;云南临沧鑫圆锗业股份有限公司;北京国晶辉红外光学科技有限公司
相近标准：20075054-T-469 锗单晶电阻率直流四探针测量方法; GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法; GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法; 20181809-T-469 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法; 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法; GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法; 20021940-T-610 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法; GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法; SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试通用技术条件; SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法