GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 现行

百检网 2021-05-26
标准号:GB/T 22572-2008
中文标准名称:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英文标准名称:Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
标准状态:现行,发布于2008-12-11; 实施于2009-10-01; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2008-12-11
实施日期:2009-10-01
中国标准分类号:71.040.40
国际标准分类号:71.040.40
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
执行单位:全国微束分析标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心
采标情况:本标准等同采用ISO国际标准:ISO 20341:2003。
采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法。
相近标准:20071058-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法; GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子; 20075695-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子; 20193156-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法; 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法; GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法; 20020617-T-469 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法; GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法; 20121404-T-469 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法; GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司