标准号:GB/T 1557-2006
中文标准名称:硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文标准名称:The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准状态:被代替,发布于2006-07-18; 实施于2006-11-01; 被代替于2019-06-02; 废止
标准类型:国家标准
标准性质:推荐性
发布日期:2006-07-18
实施日期:2006-11-01
中国标准分类号:77.040.01
国际标准分类号:77.040.01
归口单位:中国有色金属工业协会
执行单位:中国有色金属工业协会
主管部门:中国有色金属工业协会
起草单位:峨眉半导体材料厂
全部替代标准:GB 1557-1983,GB/T 1557-1989,GB/T 14143-1993
被以下标准代替:被GB/T1557-2018GB/T1557-2018全部代替
相近标准:GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法; 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法; 20060512-T-610 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法; 20151786-T-469 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法; GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法; GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法; 20062373-T-469 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法; GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法; SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法; GB/T 14143-1993 300~900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法