标准号:CNS 5066-1983
中文标准名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-总则
英文标准名称:Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (General Rules
中国标准分类号:L4
国际标准分类号:31.080.0119
标准依据:台标2017/02/18公告
适用范围:本标准适用于集体电路以外的单件半导体装置于使用,搬象或贮藏时所遭遇之各种条件下评估其性能的稳定性所设立之环境检验法及耐久性检验法。