CNS 5067-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-焊锡耐热性试验

百检网 2021-07-13

标准号：CNS 5067-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-焊锡耐热性试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Soft Solders for Heat Endurance
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：31.080.0119
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定评估单件半导体装置在附著焊锡之作业期间所能耐热程度之试验方法。

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