标准号:CNS 5069-1988
中文标准名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-热冲击试验
英文标准名称:Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Thermal Shock
中国标准分类号:L4
国际标准分类号:31.080.0119
标准依据:台标2017/02/18公告
适用范围:本标准规定单件半导体装置所能曝露*端之温度变化中,评诂其耐抗性为目的之试验方法。