标准号:CNS 5070-1988
中文标准名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-温度循环试验
英文标准名称:Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature
中国标准分类号:L4
国际标准分类号:31.080.0119
标准依据:台标2017/02/18公告
适用范围:本标准规定单件半导体装置所能耐高温低温及此二者温度间之温度变化程度之试验方法。