标准号:CNS 5071-1988
中文标准名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-温湿度循环试验
英文标准名称:Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature & Humidity
中国标准分类号:L4
国际标准分类号:31.080.0119
标准依据:台标2017/02/18公告
适用范围:本标准规定加速方法而造成之高温高湿条件下,评估单件半导体装置之耐劣化性为目的之试验方法。