CNS 5076-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-振动试验

百检网 2021-07-13

标准号：CNS 5076-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-振动试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Vibration Test
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：19.0419.083
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定评估单件半导体在搬运中或使用中所耐振动程度之试验方法。

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