标准号：CNS 5077-1988
中文标准名称：单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-端子强度试验
英文标准名称：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Terminal Strength
中国标准分类号：L4
国际标准分类号：19.0419.083
标准依据：台标2017/02/18公告
适用范围：本标准规定评估单件半导体装置在受到安装、配线或使用中所施加之力时，其端子部之强度之试验方法。
CNS 5077-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-端子强度试验
百检网 2021-07-13
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