标准号:GB/T 17574.9-2006
中文标准名称:半导体器件.集成电路.第2-9部分:数字集成电路.紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
英文标准名称:Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 2-9:Digital integrated circuits.Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
标准类型:L56
发布日期:2006/12/5 12:00:00
实施日期:2007/5/1 12:00:00
中国标准分类号:L56
国际标准分类号:31.200
引用标准:GB/T 4728.12-1996;GB/T 4937-1995;IEC 60068-2-17-1978;IEC 60134-1961;IEC 60747-10/QC 700000-1991;IEC 60748-11/QC 790100-1990
适用范围:IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。