标准号：GB/T 23414-2009
中文标准名称：微束分析.扫描电子显微术.术语
英文标准名称：Microbeam analysis.Scanning electron microscopy.Vocabulary
标准类型：N33
发布日期：2009/4/1 12:00:00
实施日期：2009/12/1 12:00:00
中国标准分类号：N33
适用范围：本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
百检网 2021-07-13
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