BS EN 60749-18-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.电离辐射(总剂量)

百检网 2021-07-14

标准号：BS EN 60749-18-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.电离辐射(总剂量)
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Ionizing radiation (total dose)
标准类型：L40
发布日期：2003/3/13 12:00:00
实施日期：2003/3/13 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This part of IEC 60749 provides a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 (

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