BS ISO 16700-2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南

百检网 2021-07-14

标准号：BS ISO 16700-2016
中文标准名称：微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
英文标准名称：Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification
标准类型：N33
发布日期：2016/7/31 12:00:00
实施日期：2016/7/31 12:00:00
中国标准分类号：N33
国际标准分类号：37.020
引用标准：ISO/IEC 17025-2005;ISO Guide 30;ISO Guide 34;ISO Guide 35;ISO 5725-1;ISO/IEC Guide 98-3;GUM-1995

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