标准号：IEC 62132-8-2012
中文标准名称：集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method
标准类型：L06
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L06
国际标准分类号：31.200;33.100.20
IEC 62132-8-2012 集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法
百检网 2021-07-14
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