标准号:BS EN 60749-40-2011
中文标准名称:半导体装置.机械和气候试验方法.利用变形测量器进行的板级落锤试验法
英文标准名称:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge
标准类型:L40
发布日期:2011/9/30 12:00:00
实施日期:2011/9/30 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01