标准号:NF C96-022-19/A1-2011
中文标准名称:半导体装置抗机械及气候影响性能的测试方法.第19部分:晶片抗切强度.
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength.
标准类型:L40
发布日期:2011/8/1 12:00:00
实施日期:2011/8/27 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01