标准号:IEC 60749-40-2011
中文标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
标准类型:L40
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01