BS EN 62132-2-2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法

百检网 2021-07-14

标准号：BS EN 62132-2-2011
中文标准名称：集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法
英文标准名称：Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. TEM cell and wideband TEM cell method
标准类型：L56
发布日期：2011/4/30 12:00:00
实施日期：2011/4/30 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
适用范围：This International Standard specifies a method for measuring the immunity of an integratedcircuit (IC) to radio frequency (RF) radiated electromagnetic disturbances. The frequencyrange of this method is from 150 kHz to 1 GHz, or as limited by the characteristics of the TEMcell.

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