标准号：GB/T 34002-2017
中文标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态：现行
发布日期：2017-07-12
实施日期：2018-06-01
中国标准分类号：G04
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 现行
百检网 2021-07-14
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