ANSI/IEEE 1500-2005 嵌入式基于芯片的集成电路C/TT的标准可试性方法

百检网 2021-07-15

标准号：ANSI/IEEE 1500-2005
中文标准名称：嵌入式基于芯片的集成电路C/TT的标准可试性方法
英文标准名称：Standard Testability Method for Embedded Core-Based Integrated Circuits C/TT
标准类型：L56
发布日期：2005/6/30 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：35.110
适用范围：Defines a protocol and management elements suitable for advertising information to stations attached to the same 802 LAN for the purpose of populating physical topology and device discovery management information databases.

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