标准号:ASTM E1438-2011
中文标准名称:使用SIMS测量溅镀深度剖面接口宽度的标准指南
英文标准名称:Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
标准类型:H80
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:H80
国际标准分类号:29.045 (Semiconducting materials)