标准号：DIN EN 62415-2010
中文标准名称：半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC 62415-2010);德文版本EN 62415-2010
英文标准名称：Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2010/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
DIN EN 62415-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC 62415-2010);德文版本EN 62415-2010
百检网 2021-07-15
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