标准号:NF X21-064-2009
中文标准名称:表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性
英文标准名称:Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry.
标准类型:G04
发布日期:2009/2/1 12:00:00
实施日期:2009/2/28 12:00:00
中国标准分类号:G04
国际标准分类号:71.040.50