IEC 62373-2006 金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验

百检网 2021-07-15

标准号：IEC 62373-2006
中文标准名称：金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
英文标准名称：Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
标准类型：L42
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L42
国际标准分类号：31.080.30
适用范围：This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability testof metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

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